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XD2/3系列衍射儀用于晶體物質(zhì)結(jié)構(gòu)定性定量分析。該產(chǎn)品功能齊全,靈活適應(yīng)各種物質(zhì)微觀結(jié)構(gòu)的測(cè)試、分析和研究。產(chǎn)品采用了θ-θ測(cè)角儀立式、中空軸、射線管座與測(cè)角臺(tái)一體化的結(jié)構(gòu),可對(duì)粉末、大塊不規(guī)則固體、液體樣品進(jìn)行測(cè)試。
XD2/3系列衍射儀用于晶體物質(zhì)結(jié)構(gòu)定性定量分析。該產(chǎn)品功能齊全,靈活適應(yīng)各種物質(zhì)微觀結(jié)構(gòu)的測(cè)試、分析和研究。產(chǎn)品采用了θ-θ測(cè)角儀立式、中空軸、射線管座與測(cè)角臺(tái)一體化的結(jié)構(gòu),可對(duì)粉末、大塊不規(guī)則固體、液體樣品進(jìn)行測(cè)試。
XD2/3系列衍射儀基本構(gòu)造:
(1) 高穩(wěn)定度X射線源 提供測(cè)量所需的X射線, 改變X射線管陽(yáng)極靶材質(zhì)可改變X射線的波長(zhǎng), 調(diào)節(jié)陽(yáng)極電壓可控制X射線源的強(qiáng)度。
(2) 樣品及樣品位置取向的調(diào)整機(jī)構(gòu)系統(tǒng) 樣品須是單晶、粉末、多晶或微晶的固體塊。
(3) 射線檢測(cè)器 檢測(cè)衍射強(qiáng)度或同時(shí)檢測(cè)衍射方向, 通過(guò)儀器測(cè)量記錄系統(tǒng)或計(jì)算機(jī)處理系統(tǒng)可以得到多晶衍射圖譜數(shù)據(jù)。
(4) 衍射圖的處理分析系統(tǒng) 現(xiàn)代X射線衍射儀都附帶安裝有衍射圖處理分析軟件的計(jì)算機(jī)系統(tǒng), 它們的特點(diǎn)是自動(dòng)化和智能化。
特點(diǎn):
· 結(jié)構(gòu)新,采用立式測(cè)角儀結(jié)構(gòu),更加方便的樣品放置方式,對(duì)于操作、維護(hù)的工作力度大為簡(jiǎn)化,更加直觀的使用,便于清理實(shí)驗(yàn)后的樣品臺(tái)。
· 進(jìn)口NaI閃爍晶體計(jì)數(shù)探測(cè)器,分辨率及長(zhǎng)時(shí)間使用穩(wěn)定性好。
· X射線管套采用整體銅棒材加工定位精度、射線防護(hù)性更好;采用了轉(zhuǎn)輪式快門,開(kāi)關(guān)速度快,故障率低,射線阻斷性好,機(jī)柜外輻射劑量低。
· X射線光源的數(shù)字控制電路作了進(jìn)一步的改善,X光機(jī)的工作功率*由計(jì)算機(jī)遙控設(shè)定。高壓與管流的加載過(guò)程受微電腦控制自動(dòng)操作,使用更加簡(jiǎn)單,運(yùn)行更加可靠。
中文視窗操作界面,全新改版的PDP衍射數(shù)據(jù)處理軟件包,支持多種數(shù)據(jù)輸出方式。
主要技術(shù)參數(shù):
1、X射線發(fā)生器的穩(wěn)定度:這不僅關(guān)系到所測(cè)衍射強(qiáng)度的準(zhǔn)確可靠,而且關(guān)系到所有部件的準(zhǔn)確和穩(wěn)定?,F(xiàn)代粉末衍射儀的光源穩(wěn)定性一般在外電源變化10%以內(nèi),輸出變化0.01%以內(nèi)。
2、功率:對(duì)于密封式X射線管,Cu靶一般為2kw,Ag、Mo、W等靶一般大于2kw,而對(duì)Co、Fe、Ni等靶則小于2kw。對(duì)于轉(zhuǎn)靶,常用的有12kw和18kw。
3、單色器的效率:應(yīng)不小于25%。
4、探測(cè)器的效率:視品種而異。
5、計(jì)數(shù)的線性范圍:關(guān)系到強(qiáng)度測(cè)量的準(zhǔn)確性,一般在
cps。有許多儀器附加了校正軟件,宣稱可以達(dá)到
cps。
6、衍射角(2θ)的測(cè)量準(zhǔn)確度和精確度。
7、分辨率:常用的Si(311)衍射峰的半高寬來(lái)代表。對(duì)于一般實(shí)驗(yàn)室粉末衍射儀,此值約在0.05°~0.1°之間。